金属有机化学气相沉积:被高估的半导体工艺核心?

去年跟我做了10年的徒弟接了国内某车规厂的SiC外延定制活,三炉出来,24片6英寸片子直接废了19片。不是脏污,不是裂纹,就是Al掺杂均匀性差了0.8个点,车规级要求通不过。

你看到的均匀性,都是实验室凑出来的

现在发论文测均匀性,都是切片子中间那一块做数据,你问问哪家把整个片子边缘2mm的数据放出来了?说白了就是藏着掖着。 金属有机化学气相沉积的原理不复杂,就是把金属有机源通到高温衬底上分解沉积,说白了就是在衬底上“长”晶体。可只要气流一动,温度一偏,掺杂浓度就飘,根本没发完美控制。
MOCVD6英寸SiC外延片电阻测试Mapping图
MOCVD6英寸SiC外延片电阻测试Mapping图
8英寸衬底刚推出来那会,我们在设备厂跟测了半个月,实测发现边缘的GaN厚度比中心厚12%,调了无数次气流挡板、改了加热模块的功率分布,最多降到8%,还是达不到消费电子芯片的要求。 谁跟你说均匀性已经搞定了?都是拿2寸、4寸小尺寸片子做出来的好看数据,放大到8寸12寸,立马现原形。

MO源纯度的隐形坑,没人愿意明说

做这行的都懂,MO源是金属有机化学气相沉积的成本大头,更是精度命门。现在所有供应商都标称6N纯度,也就是99.9999%,听起来够纯了吧? 说实话,你拿ICP-MS实际测一遍,大部分量产级MO源,实际纯度也就5.2N-5.5N,差的那零点几个N,就是硅氧碳杂质,悄咪咪全掺到你外延层里了,你还找不到原因。
MOCVD设备MO源输送管路实物图
MOCVD设备MO源输送管路实物图
去年我们实验室做过对比,同一台炉同一套参数,用进口5.8N的三甲基铝,和国产5.2N的,做出来的SiC功率器件阈值电压偏差最大差了0.4V,车规要求偏差不能超过0.1V,整炉直接废掉。 不过话说回来,就算你真拿到实打实的6N MO源,又能怎么样?价格是5N级的三倍,一片外延片子的成本直接涨快20%,卖给下游车厂,人家根本不会为你的纯度买单。做低端LED没事,反正对掺杂精度要求不高,凑活能用就行,一做功率半导体、射频芯片,立马露馅。

产业化根本绕不开的硬伤

产业化根本绕不开的硬伤
产业化根本绕不开的硬伤
现在网上全是吹金属有机化学气相沉积的,说第三代半导体离不开它,说它能做柔性电子能做量子器件,全是画饼。我干了15年,最清楚,现在有两个根上的问题,没人碰,也解决不了。 第一个就是原理性的边界效应,衬底尺寸越大,边界热泳效应越离谱,源分子都往温度低的边缘跑,沉积厚度就是偏,你调气流改加热方式换衬底托,都是治标,改变不了源分子运动的规律,最多把偏差从12%降到5%,还是满足不了高端芯片要求。 第二个就是腔体残留,MO源分解完的副产物,还有没反应完的前驱体,全堆在反应腔内壁,你做个几十炉就得停炉清洗,小设备洗一次几万,大的8寸MOCVD炉,洗一次就是30万起步,还得停线三天,良率掉不说,产能直接卡脖子。有人说用原位清洗啊,说实话,原位清洗用氯气腐蚀,洗多了腔壁就坑坑洼洼,反而掉颗粒,良率掉的更狠。进也不是退也不是。 现在资本都盯着MOCVD扩产,一窝蜂上产能,没错啊,现在第三代半导体确实离不开这个工艺,可不代表它就是完美的。这么多年所有的优化都是挤牙膏,从2寸到6寸挤了20年,从6寸到8寸挤了10年,到现在12寸MOCVD长SiC的良率还破不了70%,哪来那么多遍地黄金?说白了,行业里老人都清楚,大家都在等新的沉积技术出来替代,只是没人愿意把这话公开说破而已。
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